Ya están disponibles en el Creador de gráficas de Minitab
Cuando cada chip cuenta, comprender el lugar y la causa de los defectos es fundamental para proteger el rendimiento. En la fabricación de semiconductores, incluso las irregularidades más pequeñas pueden provocar importantes pérdidas económicas. Ya que en una sola oblea se fabrican cientos de chips, las pequeñas desviaciones de los procesos pueden suponer pérdidas de millones de dólares por desechos, retrabajo o reducción de la producción.
Las instalaciones de fabricación modernas generan cantidades enormes de datos, pero sin un contexto espacial, los patrones de defectos pueden pasar desapercibidos. Al analizar métricas como el rendimiento a nivel de lote basándose únicamente en estadísticas resumidas, frecuentemente se da por hecho que los defectos se distribuyen aleatoriamente por toda la oblea. En realidad, esa presunción rara vez se cumple. Los defectos suelen seguir patrones de distribución del espacio como anillos, agrupaciones, tableros de ajedrez o rayas que pueden revelar problemas sistémicos más arraigados en el proceso de fabricación.
Introducción a la gráfica circular: Una imagen más clara de la calidad de fabricación
Las estadísticas resumidas le indican lo que ha pasado, pero las gráficas circulares le ayudan a entender el motivo. Con el objetivo de ayudar a los ingenieros a descubrir estos patrones ocultos, el Creador de gráficas de Minitab incluye ahora una nueva y potente visualización: la gráfica circular. Esta herramienta mapea los datos de defectos a nivel de chip directamente sobre el diseño de una oblea, lo que permite a los ingenieros ver exactamente dónde se producen los defectos. Cada chip está representado por sus coordenadas físicas, y los defectos están codificados por colores para indicar la gravedad o la frecuencia. Este contexto espacial transforma los datos sin procesar en acción.
Veamos un ejemplo. Las siguientes gráficas circulares muestran distribuciones de defectos en cinco lotes diferentes. ¿Nota el anillo rojo que se forma cerca del borde de la oblea en el Lote 5? Lo que parece un simple patrón visual en realidad es un defecto en forma de anillo, que suele ser un indicador de una distribución desigual de la temperatura durante el proceso rápido de recocido térmico. Sin esta visualización, podría haber visto un declive en el rendimiento y haberse quedado con la duda. Con la gráfica circular, el problema prácticamente se dibuja solo.
De la visualización a la causa raíz
Otro ejemplo convincente de la capacidad de diagnóstico de la gráfica circular es la visualización del Lote 1, que se muestra a continuación. A primera vista, la gráfica revela una distribución no uniforme de los defectos, con regiones más claras que indican una mayor densidad de defectos. Esta concentración no es aleatoria y podría sugerir un problema sistemático en el proceso. Imagine que es usted un ingeniero de rendimiento que revisa esta gráfica después de una prueba rutinaria. Nota este patrón y se da cuenta de que podría ser un indicio de contaminación localizada, tal vez por partículas de polvo cerca de la orilla de una máquina o por una herramienta desalineada durante un paso de producción. Sin la simplicidad de la gráfica circular en el Creador de gráficas, este problema podría haberse quedado olvidado entre los números. Pero con la visualización, se revela la causa raíz, lo que permite una investigación específica y adoptar medidas correctivas antes de que el problema se extienda a otros lotes.
La gráfica circular es algo más que una ayuda visual. Es una herramienta de diagnóstico que sirve de apoyo para:
En la manufactura de semiconductores, cada chip es importante. Y con la gráfica circular, los ingenieros tienen ahora una visión más precisa para detectar, diagnosticar y eliminar los defectos antes de que se conviertan en problemas costosos. No importa si está buscando fallas en un solo lote o supervisando las tendencias en toda una planta de fabricación, esta herramienta le ayuda a pasar de un control reactivo a un control proactivo del proceso. Porque cuando se trata de rendimiento, no puede permitirse pasar por alto los patrones que se esconden a plena vista.
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