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title: 歩留まり向上を実現するウェハプロット Wafer Plots for Better Yields
description: すべてのチップが重要な場合、歩留まりを守るには欠陥が発生する場所と理由を理解することが重要です。半導体製造では、わずかな不規則性でも大きな経済的損失につながる可能性があります。1枚のウェハに数百のチップが製造されるため、わずかなプロセス偏差でも、廃棄、再加工、または生産量の減少によって数百万ドルの損失につながる可能性があります。
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# 歩留まり向上を実現するウェハプロット Wafer Plots for Better Yields

 Alyssa Sarro  |  7/8/2025

 トピック: [Graph Builder](https://blog.minitab.com/ja/blog/tag/graph-builder), [Minitab Solution Center](https://blog.minitab.com/ja/blog/tag/minitab-solution-center)

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**Minitab Graph Builderで使用可能に**

![Silicon Wafer Manufacturing](https://blog.minitab.com/hs-fs/hubfs/Imported_Blog_Media/Silicon%20Wafer%20Manufacturing-1.jpg?width=413&height=232&name=Silicon%20Wafer%20Manufacturing-1.jpg)

すべてのチップが重要な場合、歩留まりを守るには欠陥が発生する場所と理由を理解することが重要です。[半導体製造では](https://www.minitab.com/ja-jp/solutions/industry/software-technology/semiconductors/?locale=ja-JP)、わずかな不規則性でも大きな経済的損失につながる可能性があります。1枚のウェハに数百のチップが製造されるため、わずかなプロセス偏差でも、廃棄、再加工、または生産量の減少によって数百万ドルの損失につながる可能性があります。

最近の製造施設は大量のデータを生成しますが、チップの位置関係を把握していないと、欠陥パターンが見逃される可能性があります。ロット歩留まりなどの指標をサマリ統計のみで見ると、欠陥がウェハ全体にランダムに分布していると仮定してしまうことがよくあります。実際には、この仮定が正しいことはほとんどありません。欠陥は、リング、クラスタ、チェッカーボード、ストライプ状などの空間パターンに従うことが多く、製造プロセスにおけるより深いシステム的な問題を明らかにする場合があります。

**ウェハプロットの導入：より鮮明な製造品質の可視化**

サマリ統計は何が起こったかを示しますが、ウェハプロットはその理由を理解する上で役立ちます。エンジニアがこれらの隠れたパターンを見抜けるように、[**MinitabのGraph Builder**](https://support.minitab.com/ja-jp/minitab/help-and-how-to/graphs/graph-builder/overview/)に強力な可視化機能:[ウェハプロット](https://support.minitab.com/ja-jp/minitab/help-and-how-to/graphs/wafer-plot/before-you-start/overview/)が追加されました。このツールはチップレベルの欠陥データをウェハレイアウトに直接マッピングし、エンジニアが欠陥の発生場所を正確にわかるようにします。各チップは実際の座標に基づいてプロットされ、欠陥は重大度または発生頻度を示すためにカラーコード化されます。この位置関係を把握することで生データが行動につながります。 

例を見てみましょう。以下のウェハプロットは、5つの異なるロットにおける欠陥分布を示しています。ロット5のウェハの端近くに形成されている赤いリングに気付きましたか？ 単なる視覚的パターンに見えるのは、実際にはリング状の欠陥であり、多くの場合、急速な熱アニーリング工程中の温度分布のばらつきを示す指標です。この可視化がないと、歩留まりの低下を見て、その原因を推測するしかなかったかもしれません。ウェハプロットを使用すると、問題はおのずと姿を現します。

 

![Lot 5 Defect Wafer](https://blog.minitab.com/hs-fs/hubfs/Imported_Blog_Media/Lot%205%20Defect%20Wafer-1.png?width=479&height=360&name=Lot%205%20Defect%20Wafer-1.png)

![](https://blog.minitab.com/hubfs/Imported_Blog_Media/4grfhkFr1j1EbKS9C6MA8r-1.gif)

 

 

**可視化から根本原因へ**

ウェハプロットの診断力を示すもう１つの良い例が、以下のロット1の可視化に見られます。一見したところ、プロットは欠陥の分布が均一でないことを示しており、明るい領域は欠陥密度が高いことを示しています。この集中はランダムではなく、プロセスにおけるシステム的な問題を示唆している可能性があります。定期試験後、このプロットを確認している歩留まりエンジニアを想像してみてください。このパターンに気付き、それが局部的な汚染を示唆している可能性があると理解します。多分、機械の端近くの微細な塵、または生産中のツールのずれです。Graph Builderのウェハプロットの見やすい表示がなければ、この問題は数値の中に埋もれていたかもしれません。しかし、可視化により根本原因が明らかになり、問題が他のロットに波及する前に、的を絞った調査と是正措置を講じることができます。

![Lot 1 Wafer](https://blog.minitab.com/hs-fs/hubfs/Imported_Blog_Media/Lot%201%20Wafer-1.png?width=398&height=313&name=Lot%201%20Wafer-1.png)

ウェハプロットは、単なる視覚的補助を超えるものです。診断ツールとして、以下に対応します。

1. サマリ統計では見えない空間パターンを明らかにすることで、より迅速な根本原因の分析。
2. ロット全体の欠陥傾向を視覚的に監視することで、統計的にプロセス管理。
3. エスカレートする前に、繰り返しパターンを特定することで、積極的に品質を改善。

半導体製造ではすべてのチップが重要です。ウェハプロットを使用すると、エンジニアは問題が広がりコストがかかる問題になる前に、欠陥を検出、診断、解決するより鋭い目を持てます。単一ロットをトラブルシューティングする場合、または製造設備全体の傾向を監視する場合でも、このツールは、事後対応型から予防的なプロセス管理へ移行する際に役立ちます 歩留まりに関しては、目に見えているパターンを見逃す余裕はないためです。

**Minitabソリューションセンターのウェハプロットを今すぐお試しください！**

[![トライアルをダウンロード](https://no-cache.hubspot.com/cta/default/3447555/9f511dbc-994e-47cf-8909-074ebdc983a1.png)](https://cta-redirect.hubspot.com/cta/redirect/3447555/9f511dbc-994e-47cf-8909-074ebdc983a1)

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