Si mi producto cumple con las especificaciones, ¿por qué es importante si mi proceso es capaz o estable?
Por qué cumplir con las especificaciones no es suficiente: descubra por qué la capacidad y la estabilidad del proceso son importantes para la calidad.
Simulación Monte Carlo vs. evento discreto: Comprensión de las diferencias clave
Comprenda las diferencias clave entre Monte Carlo y la simulación de eventos discretos y aprenda cuándo utilizar cada una de ellas para optimizar procesos, reducir riesgos y tomar decisiones más inteligentes con las herramientas de Minitab.
Por qué Real-Time SPC es la clave para ver y resolver problemas antes de que le empiecen a costar
Descubra cómo el SPC en tiempo real proporciona a los fabricantes la visibilidad y la rapidez que necesitan para prevenir problemas antes de que se agraven. Descubra cómo Minitab ayuda a los equipos a mejorar la calidad.
Ahorre tiempo y dinero con la herramienta de mejora continua adecuada
Las empresas están perdiendo demasiado dinero por no contar con las herramientas correctas de mejora continua. Descubra cómo evitar este problema.
¿Cómo saber si su proyecto de Lean Six Sigma está preparado para el éxito?
Descubra, a partir de una encuesta realizada a empresas en todo Estados Unidos, qué factores consideran clave para el éxito de sus programas de Lean Six Sigma, Excelencia Operacional (OPEX) y mejora continua.
Rendimiento de las operaciones: estrategias de Luc Burgard, Director de Operaciones de Recipharm
Descubra cómo Luc Burgard, Director de Operaciones de Recipharm, utiliza el software de análisis de datos Minitab para ayudar a sus equipos a tomar decisiones basadas en datos.
Más allá de la fecha de vencimiento: Estadísticas para calcular la estabilidad del producto
Descubra cómo se determinan las fechas de caducidad de productos farmacéuticos, productos sanitarios, alimentos y bebidas mediante estudios de estabilidad.
Gráficas circulares para obtener mejores rendimientos
Ahora disponible en Minitab Graph Builder: El Wafer Plot ayuda a los ingenieros de semiconductores a visualizar los defectos a nivel de chip con precisión espacial, lo que permite un análisis más rápido de la causa raíz y una mejora proactiva del rendimiento.