웨이퍼 맵(Wafer Map)을 이용한 집적회로 수율 개선 Enhance Integrated Circuit Yields with a Wafer Map
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집적 회로 제조가 얼마나 복잡하고 비용이 많이 드는지에 대해 고려해보면 지속적인 개선을 위한 노력은 매우 중요합니다.
성공을 위한 시추작업 : 시추 비효율성을 평가하고 개선하는 2가지의 통계적 접근 방식 Drilling for Success: 2 Statistical Approaches to Assess and Improve Drilling Inefficiencies
Minitab Workspace
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시추 비효율성을 즉시 해결하는 데 도움이 되는 2가지 통계적 접근 방식을 알아보세요.