晶圆图提高良率 | Wafer Plots for Better Yields
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当每个芯片都很重要时，了解缺陷发生的位置和原因对于保护良率至关重要。在半导体制造中，即使是最小的不规律也会造成严重的经济损失。由于数百个芯片在单个晶圆上制造，因此较小的过程偏差可能会导致报废、返工或产量减少，造成数百万美元的损失